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Contest II 隱形眼鏡（接觸鏡）光學分析儀（高分版）可以在溶液中或空氣中測量隱形眼鏡的整個光學地形分布，并進行專業的分析和計算，其升級的高分辨率測量系統對于一些復雜表面的鏡片來說能夠偵測到更多細節。
Contest-Plus 隱形眼鏡（接觸鏡）光學分析儀可以在溶液中或空氣中測量隱形眼鏡的整個光學地形分布，并進行專業的分析和計算。
隱形眼鏡/接觸鏡 檢驗設備